Wzorcowanie aparatury pomiarowej - Janusz Piotrkowski

Wzorcowanie aparatury pomiarowej
4.00 Oceń książkę!

Autor: Janusz Piotrkowski

 Wydawnictwo: PWN
ISBN: 9788301170516
EAN:
Format: 165 x 240
Oprawa: miękka
Stron: 460
Data wydania: 2012-09-26
Gdzie kupić tanią książkę?
Merlin
książka
46.99zł
Kup książkę
Selkar
książka
71.47zł
Kup książkę
Książka w Twoim domu w ciągu 48h
Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! We współczesnym świecie działalność człowieka staje się coraz bardziej uporządkowana. Dotyczy to także dziedziny pomiarów. Z jednej strony aparatura pomiarowa wskutek automatyzacji jest coraz bardziej skomplikowana i coraz droższa, ale o wiele prostsza w użytkowaniu. Z drugiej strony w celu obniżenia kosztów upraszcza się i modyfikuje czynności metrologiczne. W racjonalizacji pomiarów nie można jednak odejść od podstawowego wymagania, jakim jest zapewnienie jedności miar na świecie.
(Ze Wstępu)

W podręczniku przedstawiono:
- aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar,
- podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej,
- zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych,
- aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
- wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów,
-badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania,
- sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania,
- laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności,
- przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.

Książka "Wzorcowanie aparatury pomiarowej"
Janusz Piotrkowski